Rasterelektronenmikroskopie
Bei der Rasterelektronenmikroskopie werden die Werkstoffoberflächen mit einem Elektronenstrahl in einem bestimmten Muster über das vergrößert abzubildende Objekt geführt (gerastert) und Wechselwirkungen der Elektronen mit dem Objekt zur Erzeugung eines Bildes des Objekts genutzt. Es ergeben sich dadurch Vergrößerungen von bis zu 100.000fach.
Rasterelektronenmikroskop (Bild: IWA)
Die so ersichtlichen Strukturen ergeben Einblick die besonders bei der Schadensanalyse von großer Bedeutung sind.
Das angeschlossen Analyse EDAX-Gerät ermöglicht zudem eine Partikelwerkstoffbestimmung.
Ausstattung:
- Rasterelektronenmikroskop FEI QUANTA 400
- EDX-Anlage, ESEM
- Sputter